Die Tascon GmbH bietet analytische Dienstleistungen und Beratung im Bereich der Oberflächen, -Grenzflächen und Schichtanalytik an.
Unser Labor ist mit modernsten Geräten zur Durchführung von ToF-SIMS, LEIS, Weißlichtinterferrometrie und XPS-Analysen ausgestattet. Durch Kooperation mit Partnerlaboren bieten wir viele weitere Analysetechniken (z.B. REM/EDX, AFM, TXRF) an.
Die Tascon GmbH ist als ToF-SIMS und XPS-Prüflabor akkreditiert nach DIN 17025.